渦流相位測量方法的探頭K6-C的PH1系列探頭
日期:2026-04-28 20:21
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摘要:用于測量鋼基材上的電鍍鎳。渦流相位測量方法的探頭K6-C的PH1系列探頭包含一個“涂層/基體”特性曲線。注:在一定情況下,可測量非導電涂層下方的電鍍涂層。
渦流相位測量方法的探頭K6-C的PH1系列探頭包含一個“涂層/基體”特性曲線。
PH1
用于測量鋼基材上的電鍍鎳。
技術特點:
測量范圍:0-300μm;深圳市時代之峰科技有限公司 電話:0755-83982139 網址: http://www.kabeiweiyu.cn
測量精度:≤±(0.03T+1)μm;
*小基底直徑:Φ1mm;
測量區域直徑:Φ4.7mm;
探頭外形尺寸:Φ12 ×40mm;
注:在一定情況下,可測量非導電涂層下方的電鍍涂層。