DMM6500 6? 位圖形觸摸屏數(shù)字萬用表

泰克/吉時利 DMM6500 觸摸屏工作臺/生產(chǎn)測試數(shù)字萬用表具有更多測量能力（包括瞬態(tài)捕捉、數(shù)據(jù)可視化和分析），而價格僅與其他性能低得多的 6? 位數(shù)字?jǐn)?shù)字萬用表相當(dāng)。

DMM6500 6? 位圖形觸摸屏數(shù)字萬用表更廣泛的測量
獲取 15 項內(nèi)置測量功能，包括數(shù)字化、電容和溫度。 在低功耗設(shè)備上進(jìn)行低電流和低電阻測量。 使用內(nèi)置的數(shù)字化器捕捉瞬態(tài)信號。 同時查看兩個測量值以*大化測試數(shù)據(jù)。 DMM6500 使得無需使用其他儀器。

可視化數(shù)據(jù)并通過觸摸屏輕松發(fā)現(xiàn)測量趨勢
即時獲得對測量的洞察，例如捕獲瞬態(tài)信號并在觸摸屏上查看數(shù)據(jù)趨勢和統(tǒng)計數(shù)據(jù)，以便更快速地分析數(shù)據(jù)并使得無需進(jìn)行額外測量。
特點
顯示波形圖，其中包括波形相互之間的疊加。
手指開合縮放功能支持對瞬態(tài)和信號波形進(jìn)行研究。
使用光標(biāo)和計算機(jī)統(tǒng)計信息來檢定波形。

擴(kuò)展到十個測量通道
如果您需要同時查看更多設(shè)備或在設(shè)備上進(jìn)行多點測量，可以選擇一個選配的掃描卡，它可以為您提供多達(dá) 10 個測量通道而無需購買更多儀器。

更高的生產(chǎn)測試吞吐量和更低的測試成本-特點
對 60 Hz (50 Hz) 的電源線進(jìn)行短至 0.0005 個電源線周期或 8.3μs (10 μs) 的測量。
使用儀器上的智能命令和控制處理方法來減少 PC 通信，從而縮短測試時間。

標(biāo)準(zhǔn) LAN LXI 和 USB 以及可選的 GPIB、RS-232 和 TSP-Link® 接口
在升級時無需編寫新代碼
獲得廣受歡迎的 Keithley 數(shù)字萬用表和競爭對手?jǐn)?shù)字萬用表的代碼仿真，讓您快速簡單地轉(zhuǎn)換代碼和更快地升級。

DMM6500 6? 位圖形觸摸屏數(shù)字萬用表捕獲和分析復(fù)雜波形和瞬態(tài)信號
DMM6500 不僅僅是在顯示屏上提供讀數(shù)。 它還可以繪制用數(shù)字化器捕獲的波形。 通過觸摸屏，可以使用手指開合縮放功能擴(kuò)展波形的各個部分。 此外，光標(biāo)和統(tǒng)計信息提供了關(guān)于信號特征的更多細(xì)節(jié)。 捕獲波形和瞬態(tài)：
1 M 采樣/秒，16 位數(shù)字化器。
對信號進(jìn)行手指開合縮放操作。
統(tǒng)計信息，例如由水平和垂直光標(biāo)定義的信號段的平均值、*大值、*小值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。

通過在單個測試設(shè)置下測量多達(dá) 10 個設(shè)備來擴(kuò)展測試容量
將選配的多路復(fù)用器卡添加到 DMM6500，在單個設(shè)備上測量多個點，或者測量多達(dá) 10 個設(shè)備。 使用多路復(fù)用器卡擴(kuò)展系統(tǒng)容量，或在一臺設(shè)備上進(jìn)行省時的測量。
特點
通過選配的 2000-SCAN 卡，可以測量多達(dá) 10 個電壓或 2 線電阻通道或多達(dá) 5 個 4 線電阻通道。
使用選配的 2001-TCSCAN 多路復(fù)用器卡，通過熱電偶測量多達(dá) 9 個溫度通道。 該卡具有內(nèi)部冷接點補(bǔ)償參考傳感器。

以高靈敏度和高精度測量電纜和連接器電阻
要測量低電阻，必須使用**技術(shù)來消除熱誤差和測試引線電阻。 借助 DMM6500，您可以：
以 1μΩ 靈敏度進(jìn)行測量。
使用 4 線電阻測量功能來消除測試引線誤差。
使用偏移補(bǔ)償功能消除熱接觸誤差。

*大化制造測試流程的吞吐量
通過更快的測量速度縮短測試時間。 在一個測試設(shè)置下測試多達(dá) 10 個設(shè)備。 使用 DMM6500 的內(nèi)置智能進(jìn)一步減少與 PC 的通信。 DMM6500 可以控制測試系統(tǒng)中的其他儀器。
特點
對 60 Hz (50 Hz) 的電源線進(jìn)行短至 0.0005 個電源線周期或 8.3μs (10 μs) 的測量。
使用Keithley 的內(nèi)部儀器 Test Script Processor (TSP®) 執(zhí)行測試并控制其他基于 TSP 或 LAN 的儀器。
使用選配的 10 通道掃描儀卡或 9 通道溫度掃描儀卡在一個測試設(shè)置下測試更多設(shè)備。